产品中心
当前位置 当前位置:首页 > 产品中心 > 测试自动化

全新一代半导体引线框架曝光缺陷检测设备

系统采用机器学习算法,通过高达1微米的检测精度,着眼在批量生产中发现曝光不全、露铜、纹理偏移等各类缺陷。

相关内容
在线留言
详情内容
content details


系统采用机器学习算法,通过高达1微米的检测精度,着眼在批量生产中发现曝光不全、露铜、纹理偏移等各类缺陷。


在线留言

LEAVE A MESSAGE

电话:

18609201112

邮箱:

cyw@faust15.com

地址:

西安市高新区创汇路30号1号楼5层、3号楼1层

关注我们

关注我们

Copyright © 西安浮士德自动化科技有限公司  版权所有  备案号:陕ICP备16016215号-1  网站地图  RSS   XML   城市分站:  陕西  西安  咸阳
技术支持:  万家灯火